現在のカゴの中

商品数:0点

合計:0円

カゴの中を見る

商品カテゴリー

商品検索

商品カテゴリから選ぶ

商品名を入力

&Techのサービス

セミナー

主催・企画元:&Tech

『SiCウェハ加工における大口径化対応技術と評価のポイント』
~ウェハ加工時に残留する加工変質層の特徴・後工程影響・加工変質層分析技術~


★SiCは高硬脆性を持ち、極めて加工が難しい!量産化にむけ重要となる低コスト・高品質を両立する新しい加工技術の開発とは?
★インゴット切断から仕上げ研磨まで、SiC加工技術における現行技術から最新技術まで概説!
★SiCウェハ加工時に残留する加工変質層の特徴や後工程への影響、加工変質層の分析技術についても紹介!

★★★このセミナーは“事前予約可能セミナー”です★★★

次回、ポイント割引が利用できる会員登録(無料)はココをクリック

※セミナーお申込はページ右下の項目(人数登録)を設定後、“カゴにいれる”でお申し込み手続きに進みます

セミナー概要


セミナー番号
S70727 「SiCウェハ加工」
 (※本セミナーにお問い合わせの際は、セミナー番号と略称でお尋ねください)

講 師
 
国立研究開発法人産業技術総合研究所 つくば西事業所 エネルギー・環境領域 先進パワーエレクトロニクス研究センター ウェハプロセスチーム チーム長 加藤 智久 氏
対 象SiCウェハ加工に関心のある技術者
会 場
高砂ビル 2F CMC+AndTech FORUM セミナールーム【東京・千代田区】
◆東京メトロ 大手町駅下車 C1出口から徒歩5分
◆東京メトロ 竹橋駅下車 1番出口から徒歩10分、都営新宿線 小川町駅下車 B6出口から徒歩10分
◆神田駅下車 西口から徒歩10分
日 時
2017年7月31日(月) 13:30-16:30
定 員30名 ※満席になりましたら、締め切らせていただきます。早めにお申し込みください。
聴講料

【1名の場合】27,000円(税込、テキスト費用を含む)

【2名の場合】32,400円(税込、テキスト費用を含む)

【3名以上の場合は一名につき、5,400円加算】(税込、テキスト費用を含む)
※3名以上ご要望の場合は2名を選択し、備考欄にその旨お書きくださいませ

※ 弊社講座は、複数でのご参加を希望される場合、サービスとして1名につき、5,400円で何名でも追加の申し込みができますが、同一部署に限ります。なお、別途でのお申し込みは正規料金になります。ご了承ください。 

※ AndTechの講習会は、特別割引とポイント割引など、2種類以上の割引は、同時には適用されません。誤って、2種類以上の割引を同時にご利用された方には、後程、事務局より割引選択のための確認連絡をいたします



【経歴】
1999年 電子技術総合研究所材料科学部 入所 SiCバルク単結晶成長技術の開発、SiC加工技術の開発
【2000年 産総研へ改組】
〜2008年 4inch大口径・長尺SiC単結晶成長技術開発(パワーエレクトロニクス研究センター)
〜2010年 SiC単結晶成長の高品質化技術、SiCの放電切断加工技術の開発(エネルギーエレクトロニクス研究ラボ)
〜2014年 NEDOプロジェクト(FUPET)での6インチSiCウェハ開発[結晶成長・ウェハ加工]開発グループリーダー(先進パワーエレクトロニクス研究センター)
2013年 ウェハプロセスチーム長 就任
2014〜現在 内閣府SIPプロジェクト「次世代パワーエレクトロニクスの総合的研究開発」SiCウェハ開発テーマリーダー

【受賞】
平成27年度砥粒加工学会賞熊谷賞

【キーワード】
1.SiC
2.ウェハ加工
3.パワー半導体

【講演主旨】
 炭化珪素(SiC)はシリコンに換わる省エネパワーデバイス素子として期待されている新しいワイドギャップ半導体材料である。しかし、SiCは高硬脆性を持ち極めて加工が難しく、今後、大口径SiCウェハの量産化には低コスト・高品質を両立する新しい加工技術の開発が重要である。本講演では、インゴット切断から仕上げ研磨までのSiC加工技術における現行技術から最新技術まで概説し、今後の大口径化対応、量産技術化について議論する。また、SiCウェハ加工時に残留する加工変質層の特徴や後工程への影響、加工変質層の分析技術についても紹介する。

【プログラム】
1.大口径SiCウェハ加工技術開発の背景と課題
 1-1 SiCの特徴とウェハ開発
 1-2 SiC加工技術の課題と目指すべき指標

2.SiCバルク単結晶の切断技術
 2-1 大口径化に伴う切断技術の課題と対策
 2-2 SiCの新しい切断法

3.SiCの研削・研磨技術
 3-1 研削・研磨による各種平坦化加工技術の課題と対策
 3-2 SiCの新しい研磨技術

4.ウェハ加工面の評価技術
 4-1 ウェハプロセスで発生する加工変質層の特徴と評価技術
 4-2 加工変質層の影響

【質疑応答・名刺交換】




新サービス
『事前予約可能セミナー』

★今後、気になるテーマにつき、「とりあえず」の席の確保が可能となる「無料の事前予約サービス」を開始いたしました!
●「事前予約」で申し込みをしても、14日前まではキャンセル可能。
●予約申し込み時点の日付で、早期割引も適用。席の確保が可能。
●予約の時点では、支払義務は発生しません(開催14日前を過ぎると発生)
●下記「カートに入れる」より、お手続きくださいませ。

⇒仮申込扱いですので、社内申請中の方でご参加を予定されている方にお勧めです。ぜひご利用ください。
※開催日の14日前までにキャンセルのご連絡なければ、正式なお申込みとして受講票・請求書を事務局より発送させていただきます。ご留意ください

『SiCウェハ加工における大口径化対応技術と評価のポイント』【2017年7月31日】
  • NEW
  • オススメ
商品コード: S70727

『SiCウェハ加工における大口径化対応技術と評価のポイント』【2017年7月31日】

付与ポイント(会員のみ): 2000~2400 Pt
≪ポイント利用例≫
  5000ptを¥54000(消費税8%込)の商品購入時にご利用いただくと
  ¥54000(消費税8%込)-5000pt ⇒ ¥49000(消費税8%込)のお支払いとなります。

人数登録
口数選択(※1口の場合は、1のままでご入力ください)

カゴに入れる